Four-Point-Probes

Guardian SRM 표면 저항 측정기 합 리적인 가격의 훠 포인트 프로브	Jandel 수동형4 Point Probe	Jandel 4 Point Probe Heads

전도성 필름및 웨이퍼 ...................표면저항측정 경량 휴대용 9V 배터리 작동 127 포인트 데이터 저장 능력 RS-232 interface를 이용한 데이터 전송 4 가지 모델 Guardian232-10 - 0.00 to 10.0 ohms/square. Guardian232-100 - 0.00 to 95.00 ohms/square. Guardian232-1000 - 0.00 to 1000.0 ohms/square. Guardian232-2000 - 0.00 to 2000.0 ohms/square.	5 가지의 프로브 유닛을 이용한 저항 테스트 유닛과 함께 사용합니다 Resistivity Test Unit (Electronics) 유닛 내부에 전류원과 측정기가 내장되어 있습니다. 1~10⁷Ohms-per-square 까지 측정합니다 Multiposition 4 Point Probe 1mm 간격으로 8" 웨이퍼 상에서 1~9 포인트를 지정하여 측정합니다, Multi-Height 4 Point Probe 프로브의 높이를 자동 조정하여 대형 기판이나 인고트등을 측정합니다. 고정확성을 요하는 소형 샘플의 측정에 적당하다. 3" dia.의 웨이퍼 및 기판에 사용합니다. 3" 웨이퍼 및 기판영의 다목적용 프로브입니다. 수동 위치 4 Point Probe 수동으로 프로브를 위치 시키며 대형 평판, 인고트등에 적용합니다.	Prometrix 와 CDE Probes Prometrix, KLA/Tencor, CDE system. , 모든 종류의 프로브 close space probes (20 mil spacing). 특수 Four Point Probe Head High/Low Temperature 4 Pt Probes Vacuum Chamber 4 Pt Probes Square Array (Hall) 4 Pt Probes 5 Point Probes Close Needle Spacing Probes
Superior 박막 저항 측정 웨이퍼 맵핑 시스템 (Thin Film Resistivity Wafer Mapping System )	TYPE-IT P / N Typing Probe	Superior Manual Four Point Probe (Computer Controlled Data Acquisition System)

자동 스텝핑 Cassette-to-Cassette 도 가능 Windows Software 고 신뢰성	신속정확하게 P, N 타입 판정 고신뢰성을 위한 마이크로프로세서 콘트롤 0.1초내에 같은 포인트를 4번 측정 N, P, Error 표시 저가격의 교환 핀 높은 생산성 0.01 ohm 단위 측정	Manual 타입 Four Point Probe Computer Controlled Data Acquisition Windows Software
Four Point Probing Information 간단한 적용 예-표면저항치, Ohms-Per-Square, 저항치 및 두께의 계산 사용시 주의점 및 계산공식 Four Point Probe 이론 Four-Point Probe 매뉴얼 Tel 031-479-4211/2 Fax 031-479-4213 Email JSi@JSiTS.com